Nanoplata como material de referencia: Requisitos metrológicos y hoja de ruta latinoamericana

dc.contributor.authorVega Baudrit, José Roberto
dc.date.accessioned2026-08-13T16:38:02Z
dc.date.available2026-08-13T16:38:02Z
dc.date.issued2026-08-13
dc.descriptionLOGOS > VOL. VII NO. II > INVESTIGACIONES
dc.description.abstractLa expansión de la nanotecnología ha evidenciado una brecha metrológica: se comercializan y estudian nanopartículas de plata (AgNP) cuyas propiedades dependen del tamaño, la forma, el recubrimiento y la matriz, y muchos resultados se comparan con materiales insuficientemente caracterizados. Este ensayo examina el papel de los materiales de referencia (MR) basados en AgNP para apoyar la investigación, la validación de métodos, la evaluación de riesgos y la vigilancia regulatoria, mediante una revisión documental narrativa y no sistemática de 19 documentos (artículos científicos, normas ISO/ISO-IEC, documentos de la OCDE y recursos técnicos institucionales). La revisión aborda homogeneidad, estabilidad, caracterización, asignación de valores, incertidumbre de medición, trazabilidad metrológica, conmutabilidad y aptitud para el uso previsto. Con base en la evidencia, se propone una hoja de ruta conceptual, no validada experimentalmente, para diseñar, producir, caracterizar y documentar candidatos, reconociendo que un material certificado es un subconjunto de los MR y que la representatividad, el formato físico y la comercialización son descriptores independientes del estatus metrológico. También se examinan las barreras técnicas, institucionales y económicas para una iniciativa regional: una plataforma latinoamericana podría complementar la oferta internacional en matrices y usos prioritarios, pero su viabilidad debe evaluarse mediante estudios piloto, comparaciones interlaboratoriales, competencia institucional (ISO 17034 e ISO/ IEC 17025) y análisis económico, pues ningún material, método o esquema comparativo es universalmente adecuado.
dc.identifier.citationVega Baudrit, J.R. (2026). Nanoplata como material de referencia: Requisitos metrológicos y hoja de ruta latinoamericana. LOGOS. 7(2), 85-95.
dc.identifier.issn2215-5910
dc.identifier.urihttps://dspace.ulead.ac.cr/handle/123456789/352
dc.language.isoes
dc.publisherEditorial ULEAD
dc.subjectcomparabilidad analítica
dc.subjecttrazabilidad
dc.subjecthomogeneidad
dc.subjectestabilidad
dc.subjectincertidumbre
dc.subjectgobernanza tecnológica
dc.subjectanalytical comparability
dc.subjecttraceability
dc.subjecthomogeneity
dc.subjectstability
dc.subjectuncertainty
dc.subjecttechnology governance
dc.titleNanoplata como material de referencia: Requisitos metrológicos y hoja de ruta latinoamericana
dc.typeArticle

Files

Original bundle
Now showing 1 - 1 of 1
Loading...
Thumbnail Image
Name:
Nanoplata.pdf
Size:
939.7 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
License bundle
Now showing 1 - 1 of 1
No Thumbnail Available
Name:
license.txt
Size:
1.71 KB
Format:
Item-specific license agreed upon to submission
Description:

Collections